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先進材料科学のためのモジュラー分光法ソリューション

Andor の分光分析製品ラインアップは、さまざまな材料の化学的・構造的・電子的・光学的特性を、ナノスケールまで高感度かつ高い再現性で評価するための、柔軟にカスタマイズ可能なソリューションを提供します。

ラマン分光、フォトルミネッセンス／蛍光／カソードルミネッセンス、吸収分光、発光分光、LIBS（レーザー誘起プラズマ分光）、第二高調波発生（SHG）、暗視野散乱法などの多様な手法に対応し、ナノ・マイクロ・マクロスケールでの構造解析に不可欠なツールを幅広く提供します。

お客様のニーズに合わせた分光分析ソリューション

Andor分光検出器は 、UVからSWIR領域において最高感度を提供し 、化学的シグネチャ、構造変化、またはフォトニクス特性に関連する情報を、可能な限り最高の精度と再現性で取得することを保証します。当社の高度に構成可能な分光器は、マルチモーダル設定や、マイクロ分光法など幅広い光子領域・実験に理想的なプラットフォームを提供します。

高感度＆ダイナミックレンジ

  • 高感度 UV-SWIR
  • 大型画素ウェル深さ
  • 高解像度マトリクス
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ns から µs
時間分解能

  • ナノ秒ゲート
  • 単一光子レベルまでの高感度
  • 頭上設置型DDG（ps精度）
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マイクロ秒からミリ秒
時間分解能

  • 数kHzのスペクトルレート
  • 単一光子レベルの高感度
  • 高分解能マトリックス
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分光器システムと付属品

  • 高モジュラー性、高分解能、高スループットを実現したKymera & Shamrock
  • 広帯域同時測定、高分解能のMechelle
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応用と技術

半導体

非侵襲的なプロービング技術（ラマン分光法、フォトルミネッセンス、吸収分光法など）は、幅広い先進的な半導体構造の構造（欠陥の存在や応力下での挙動を含む）、電子的挙動、発光特性に関する非常に特異的な情報を提供できます。

これらは低次元ナノ結晶、遷移金属ジカルコゲナイド（TMDs）、有機半導体（例：有機EL）から、より複雑なマイクロエレクトロニクスや光捕集構造に至るまで多岐にわたります。

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量子

量子科学における光学分光法の応用には、量子ドット（QDs）やダイヤモンド中の窒素空孔（NV）などの単一光子源の電子特性および光学特性の評価、ならびにこれらの光源が量子通信に関連するシステムとどのように連携できるかの研究が含まれます。

AndorのイメージングEMCCDおよびゲートICCD検出器も、特に光子エンタングルメント実験において、量子科学研究の最先端に位置しています。

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エネルギー

先端材料科学は、太陽電池/光起電力セルを含む効率的な再生可能エネルギー収集システムの開発、ならびにバッテリーにおける新規ナノ/マイクロ構造や新規触媒の導入を含む、より効率的なエネルギー貯蔵ソリューションの開発において重要な役割を果たしています。

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ライフサイエンス

ナノ材料とナノ構造は、生命科学の分野で数多くの応用を見出しています。より明るく、より安定し、低毒性の光学プローブ（例えば量子ドットを基盤とするもの）の開発は、生体医療イメージング応用に大きく貢献しています。一方、機能化されたナノ構造の開発は、標的指向型薬物送達と治療プラットフォームを提供します。

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プラズモニクス

金属または半導体（表面）プラズモンと光子の相互作用の理解と制御は、例えば表面増強（SERS）または先端増強（TERS）ラマン分光法を用いた高感度ラベルフリー化学センシングなど、数多くの応用分野で活用できます。

プラズモンメタマテリアルは化学検出への代替手段を提供するだけでなく、光操作や光エネルギー収集（再生可能エネルギーや太陽電池などの文脈において）、ならびに生体医療応用においても注目されています。

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研究能力を拡大する

材料科学のセットアップは、Andorの高感度・高解像度イメージングEMCCDまたは sCMOsカメラ によって補完可能であり、幅広い顕微鏡セットアップにおいて追加の空間挙動情報を提供します。 AsylumResearch原子間力顕微鏡（AFM）システムは 、補完的なタイプのトポロジカル、ナノ電気的、ナノ機械的、または磁気的情報を提供します。

Andor製高感度イメージングカメラ

  • 超高感度UV-VISカメラ（単一光子レベルまで対応）
  • 高速フレームレート
  • 高解像度ピクセル
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Asylum ResearchのAFMソリューション

  • 他の大型試料用AFMよりも高い解像度
  • セットアップから結果取得まで、あらゆる工程がより簡便かつ迅速に
  • モジュラー設計でニーズに柔軟に対応
詳細はこちら

NanoAnalysis社製 電子顕微鏡用ツール

  • 後方散乱電子・x-ray（BEX）検出器
  • エネルギー分散型x-ray分光法（EDS）検出器
  • 電子後方散乱回折（EBSD）検出器
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学習センターのリソース

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顧客向け出版物

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Yu et al Anomalous isotope effect on the optical bandgap in a monolayer transition metal dichalcogenide semiconductor 2024
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Ghezellou et al Influence of Different Hydrocarbons on Chemical Vapor Deposition Growth and Surface Morphological Defects in 4H-SiC Epitaxial Layers 2024
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